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Publikationen (Universitätsbibliografie)
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Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Autoren:
Castellazzi, Alberto; Fayyaz, Asad; Kraus, Rainer
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
SiC MOSFET Device Parameter Spread and Ruggedness of Parallel Multichip Structures
Zeitschrift:
Materials Science Forum
Jahrgang:
924
Jahr:
2018
Seiten von - bis:
811-817
Sprache:
Englisch
ISSN:
0255-5476
DOI:
10.4028/www.scientific.net/MSF.924.811
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Professur:
Maurer, Linus
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Vorkommen:
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