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- Authors:
- Castellazzi, Alberto; Fayyaz, Asad; Kraus, Rainer
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- SiC MOSFET Device Parameter Spread and Ruggedness of Parallel Multichip Structures
- Journal:
- Materials Science Forum
- Volume:
- 924
- Year:
- 2018
- Pages from - to:
- 811-817
- Language:
- Englisch
- ISSN:
- 0255-5476
- DOI:
- 10.4028/www.scientific.net/MSF.924.811
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
- Institute:
- EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
- Chair:
- Maurer, Linus
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
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