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Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
SiC MOSFET Device Parameter Spread and Ruggedness of Parallel Multichip Structures
Journal:
Materials Science Forum
Volume:
924
Year:
2018
Pages from - to:
811-817
Language:
Englisch
ISSN:
0255-5476
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institute:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Chair:
Maurer, Linus
Open Access yes or no?:
Nein / No
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