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Autoren:
Lehndorff, Thomas; Abelein, Ulrich; Alsioufy, Adnan; Hirler, Alexander; Sulima, Torsten; Simon, Stefan; Lochner, Helmut; Hansch, Walter 
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article 
Titel:
Extended lifetime qualification concepts for automotive semiconductor components 
Verlagsort:
Neubiberg 
Verlegende Institution:
Universität der Bundeswehr München 
Jahr:
2020 
Seiten (Monografie):
Sprache:
Englisch 
Schlagwörter:
Kraftfahrzeugindustrie ; Autonomes Fahrzeug ; Elektrofahrzeug ; Halbleitertechnologie ; Zuverlässigkeit ; Lebensdauer ; Technikbewertung 
Abstract:
Current automotive megatrends electro mobility, digitalization and autonomous driving lead to more demanding reliability requirements for automotive semiconductors. The most significant change applies to the operating time, which increases at least by a factor four. In this work, a typical new mission profile is used to highlight that the established qualification procedure using standardized stress test conditions, the AEC-Q100, is not sufficient to proof fulfillment of these new life-cycle req...    »
 
DDC-Notation:
629.272 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik 
Professur:
Hansch, Walter 
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes