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- Authors:
- Weber, Johannes; Fung, Rita; Wong, Richard; Wolf, Heinrich; Gieser, Horst A.; Maurer, Linus
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- Stress Current Slew Rate Sensitivity of an Ultra-High-Speed Interface IC
- Journal:
- IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
- Volume:
- 19
- Issue:
- 4
- Year:
- 2019
- Pages from - to:
- 591-601
- Language:
- Englisch
- ISSN:
- 1530-4388 ; 1558-2574
- DOI:
- 10.1109/TDMR.2019.2952286
- URL:
- https://doi.org/10.1109/TDMR.2019.2952286
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
- Institute:
- EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
- Chair:
- Maurer, Linus
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
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