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Document type:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Title:
Stress Current Slew Rate Sensitivity of an Ultra-High-Speed Interface IC
Journal:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Volume:
19
Issue:
4
Year:
2019
Pages from - to:
591-601
Language:
Englisch
ISSN:
1530-4388 ; 1558-2574
Department:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institute:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Chair:
Maurer, Linus
Open Access yes or no?:
Nein / No
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