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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Investigation on electron beam radiation defects induced in KETEK PM3350 silicon photomultipliers
Konferenztitel:
International Conference on Scintillating Materials and their Applications (14., 2017, Chamonix)
Tagungsort:
Chamonix
Jahr der Konferenz:
2017
Datum Beginn der Konferenz:
18.09.2017
Datum Ende der Konferenz:
22.09.2017
Jahr:
2017
Sprache:
Englisch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik
Professur:
Hansch, Walter
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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