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- Autorinnen/Autoren:
- Ammer, Michael; Cao, Yiqun; Rupp, Andreas; Sauter, Martin; Maurer, Linus
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- Bringing the SEED Approach to the Next Level: Generating IC Models for System ESD and Electrical Stress Simulation out of Design Data
- Zeitschrift:
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
- Jahrgang:
- 62
- Heftnummer:
- 1
- Verlag:
- IEEE
- Jahr:
- 2020
- Seitenbereich:
- 25-35
- Sprache:
- Englisch
- ISSN:
- 0018-9375 ; 1558-187X
- DOI:
- 10.1109/TEMC.2018.2888691
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik; Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik; ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Sauter, Martin ; Maurer, Linus
- Open Access:
- Nein / No
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