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- Authors:
- Ammer, Michael; Cao, Yiqun; Rupp, Andreas; Sauter, Martin; Maurer, Linus
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- Bringing the SEED Approach to the Next Level: Generating IC Models for System ESD and Electrical Stress Simulation out of Design Data
- Journal:
- IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
- Volume:
- 62
- Issue:
- 1
- Publisher:
- IEEE
- Year:
- 2020
- Pages from - to:
- 25-35
- Language:
- Englisch
- ISSN:
- 0018-9375 ; 1558-187X
- DOI:
- 10.1109/TEMC.2018.2888691
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik; Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institute:
- EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik; ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Chair:
- Sauter, Martin ; Maurer, Linus
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
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