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- Autorinnen/Autoren:
- Helm, Ricardo; Egger, Werner; Corbel, Catherine; Sperr, Teper; Butterling, Maik; Wagner, Andreas; Liedke, Maciej Oskar; Mitteneder, Johannes; Mayerhofer, Micheal; Lee, Kangho; Duesberg, Georg; Dollinger, Günther; Dickmann, Marcel
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- Defect Studies in Thin-Film SiO2 of a Metal-Oxide-Silicon Capacitor Using Drift-Assisted Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy
- Zeitschrift:
- Nanomaterials
- Jahrgang:
- 15
- Heftnummer:
- 15
- Jahr:
- 2025
- Sprache:
- Englisch
- ISSN:
- 2079-4991
- DOI:
- 10.3390/nano15151142
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.3390/nano15151142
- Fakultät:
- Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik
- Institut:
- LRT 2 - Institut für Angewandte Physik und Messtechnik
- Professorin/Professor:
- Dollinger, Günther
- Projekt:
- BMBF-POSILIFE
- Open Access:
- Ja / Yes
- Open-Access-Lizenz:
- CC BY 4.0
- URL zur Lizenz:
- https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/deed.de
- Sonstige Angaben:
- Die Veröffentlichung wurde finanziell unterstützt durch die Universität der Bundeswehr München und die DFG.
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