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- Authors:
- Helm, Ricardo; Egger, Werner; Corbel, Catherine; Sperr, Teper; Butterling, Maik; Wagner, Andreas; Liedke, Maciej Oskar; Mitteneder, Johannes; Mayerhofer, Micheal; Lee, Kangho; Duesberg, Georg; Dollinger, Günther; Dickmann, Marcel
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- Defect Studies in Thin-Film SiO2 of a Metal-Oxide-Silicon Capacitor Using Drift-Assisted Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy
- Journal:
- Nanomaterials
- Volume:
- 15
- Issue:
- 15
- Year:
- 2025
- Language:
- Englisch
- ISSN:
- 2079-4991
- DOI:
- 10.3390/nano15151142
- URL:
- https://doi.org/10.3390/nano15151142
- Department:
- Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik
- Institute:
- LRT 2 - Institut für Angewandte Physik und Messtechnik
- Chair:
- Dollinger, Günther
- Project:
- BMBF-POSILIFE
- Open Access yes or no?:
- Ja / Yes
- Type of OA license:
- CC BY 4.0
- Licence URL:
- https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/deed.de
- Miscellaneous:
- Die Veröffentlichung wurde finanziell unterstützt durch die Universität der Bundeswehr München und die DFG.
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