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- Autorinnen/Autoren:
- Helm, Ricardo; Egger, Werner; Corbel, Catherine; Sperr, Peter; Butterling, Maik; Wagner, Andreas; Liedke, Maciej Oskar; Hirschmann, Eric; Mitteneder, Johannes; Mayerhofer, Michael; Lee, Kangho; Duesberg, Georg S.; Dollinger, Günther; Dickmann, Marcel
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- Defect Characterization of the SiO2/Si Interface Investigated by Drift-Assisted Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy
- Zeitschrift:
- Nanomaterials
- Jahrgang:
- 16
- Jahr:
- 2026
- Umfang (Seiten):
- 1-18
- Sprache:
- Englisch
- ISSN:
- 2079-4991
- Article-ID:
- 156
- DOI:
- 10.3390/nano16030156
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.3390/nano16030156
- Fakultät:
- Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik
- Institut:
- LRT 2 - Institut für Angewandte Physik und Messtechnik
- Professorin/Professor:
- Dollinger, Günther
- Open Access:
- Ja / Yes
- Open-Access-Lizenz:
- CC BY 4.0
- Sonstige Angaben:
- Die Veröffentlichung wurde finanziell unterstützt durch die Universität der Bundeswehr München und die DFG.
- OA-Lizenz des Volltexts:
- https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
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