Die Entwicklung und der Einsatz von Beschichtungsverfahren zur Veredlung und Verbesserung von Oberflächen gewinnt aufgrund wachsender Kosten-/ Zeit- und Ressourcenknappheit immer mehr an Bedeutung. Der Prozess des Beschichtens muss möglichst autark ablaufen, eventuelle auftretende Störungen sollen durch entsprechende Diagnostiken registriert und gegebenenfalls nachreguliert werden. Im ersten Teil der Arbeit wird ein kurzer Überblick über die Funktionsweise der gängigen Partikeldiagnostikverfahren gegeben und miteinander verglichen. Die hier beschriebene Diagnostikmethode PSI (Particle Shape Imaging) untersucht daher das Verhalten des Beschichtungsmaterials während des Prozesses und liefert physikalische Parametergrößen zu dessen Optimierung. Dabei handelt es sich um eine Laser-Schattenbild-Methode, die von individuellen Partikeln Bilder aufnimmt und mit speziell entwickelter Bildverarbeitung analysiert. Der Hauptfokus der Arbeit liegt in der Definition neuer Bewertungsfaktoren der Partikel in Bezug auf die Größe (z.B. Kreisfit oder Ellipsenfit) und auf die Form (z.B. durch Fourieranalyse der Oberflächenkontur), die Rückschlüsse und Aussagen über den Aufschmelzgrad der Partikel ermöglichen. Neben Größe und Form liefert als zusätzliches Ergebnis das PSI-System die Position mittels Stereobeleuchtung und durch den Einsatz eines Triggers (Photodiodenarray) lassen sich Aussagen über die Geschwindigkeit individueller Partikel herstellen. Mit geeigneter Darstellung werden diese Ergebnisse zusammengefasst und liefern so einen wesentlichen Beitrag zum Prozessverständnis.    «

Die Entwicklung und der Einsatz von Beschichtungsverfahren zur Veredlung und Verbesserung von Oberflächen gewinnt aufgrund wachsender Kosten-/ Zeit- und Ressourcenknappheit immer mehr an Bedeutung. Der Prozess des Beschichtens muss möglichst autark ablaufen, eventuelle auftretende Störungen sollen durch entsprechende Diagnostiken registriert und gegebenenfalls nachreguliert werden. Im ersten Teil der Arbeit wird ein kurzer Überblick über die Funktionsweise der gängigen Partikeldiagnostikverfahre...    »