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Autoren:
Reggiani, Susanna; Gnani, Elena; Rudan, Massimo; Baccarani, Giogio; Bychikhin, Sergey; Kuzmík, Ján; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Denison, Marie; Jensen, Nils; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
A New Numerical and Experimental Analysis Tool for ESD Devices by Means of the Transient Interferometric Technique
Zeitschrift:
IEEE Electron Device Letters
Jahrgang:
26
Heftnummer:
12
Jahr:
2005
Seiten von - bis:
916-918
Sprache:
Englisch
DOI:
10.1109/LED.2005.859685
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.1109/LED.2005.859685
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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Vorkommen:
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