Universität der Bundeswehr München: AtheneForschung
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Dokumenttyp:
Patent
Patentnummer:
DE000019835266A1
Erfinder:
Sauter, Martin
Patentanmelder:
Siemens AG, 80333 München, DE
Titel:
Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen
Paralleltitel:
Operating temperature determining method for semiconductor components e.g. DMOS transistors
Anmeldeland:
Deutschland
Anmeldenummer:
19835266
Datum der Patentanmeldung:
04.08.1998
Veröffentlichungsdatum:
17.02.2000
Jahr:
1998
Seiten:
6
Sprache:
Deutsch; Englisch
IPC-Hauptklasse:
H01L 23/62
URL zum Volltext:
https://register.dpma.de/DPMAregister/pat/register?AKZ=198352662
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Sauter, Martin
Sonstige Angaben:
Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen und dessen Verwendung
Vorkommen:
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