Login
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Automated setup for thermal imaging and electrical degradation study of power DMOS devices
Titel Konferenzpublikation:
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
Untertitel Konferenzpublikation:
Arcachon France: 10.10.2005 - 14.10.2005
Konferenztitel:
European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (2005, Arcachon)
Tagungsort:
Arcachon, France
Jahr der Konferenz:
2005
Datum Beginn der Konferenz:
10.10.2005
Datum Ende der Konferenz:
14.10.2005
Jahr:
2005
Sprache:
Englisch
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
BibTeX