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- Autorinnen/Autoren:
- Morgenstern, Haiko; Groos, Gerhard; Köhne, Heiko; Stecher, Matthias; John, Werner; Reichl, Herbert
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Algorithm for the automatic verification of complex mixed-signal ICs regarding ESD-stress
- Titel Konferenzpublikation:
- 2005 PhD Research in Microelectronics and Electronics
- Konferenztitel:
- Research in Microelectronics and Electronics (2005, Lausanna)
- Konferenztitel:
- PRIME 2005
- Tagungsort:
- Lausanne
- Jahr der Konferenz:
- 2005
- Datum Beginn der Konferenz:
- 25.07.2005
- Datum Ende der Konferenz:
- 28.07.2005
- Jahr:
- 2005
- Seitenbereich:
- 213-216
- Sprache:
- Englisch
- ISBN:
- 0-7803-9345-7
- DOI:
- 10.1109/RME.2005.1543042
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.1109/RME.2005.1543042
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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