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Autoren:
Wang, Xiaopeng; Xiong, Kuanchen; Li, Lei; Hwang, James C. M.; Jin, Xin; Fabi, Gianluca; Farina, Marco; Hartwig, Oliver; Prechtl, Maximilian; Düsberg, Georg; Göritz, Alexander; Wietstruck, Matthias; Kaynak, Mehmet 
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper 
Titel:
Quantitative Scanning Microwave Microscopy of Few-layer Platinum Diselenide 
Titel Konferenzpublikation:
2020 50th European Microwave Conference (EuMC) 
Veranstalter (Körperschaft):
IEEE 
Konferenztitel:
European Microwave Conference (50., 2020, Utrecht, Netherlands) 
Tagungsort:
Utrecht 
Jahr der Konferenz:
2021 
Datum Beginn der Konferenz:
12.01.2021 
Datum Ende der Konferenz:
14.01.2021 
Verlag:
IEEE 
Jahr:
2021 
Seiten von - bis:
987-990 
Sprache:
Englisch 
Abstract:
PtSe2 is unique among all 2D materials by having simultaneously sizable bandgap, high carrier mobility, and air stability. Moreover, PtSe2 undergoes a semiconductor-semimetal transition when its thickness increases beyond a few atomic layers, which facilitates low-resistance contact. However, there has been a controversy in how abruptly PtSe2 transitions from a semiconductor to a semimetal. In this work, scanning microwave microscopy was used to quantify the conductivity in two PtSe2 layers 1.5-...    »
 
ISBN:
978-2-87487-059-0 ; 978-2-87487-058-3 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik 
Professur:
Düsberg, Georg 
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes