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Autoren:
Bscheid, Christian; Engst, Christian R.; Eisele, Ignaz; Kutter, Christoph 
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article 
Titel:
Minority Carrier Lifetime Measurements for Contactless Oxidation Process Characterization and Furnace Profiling 
Zeitschrift:
Materials 
Jahrgang:
12 
Heftnummer:
Jahr:
2019 
Sprache:
Englisch 
Stichwörter:
lifetime ; high-resistivity ; float zone ; furnace profiling ; oxide characterization 
Article-ID:
190 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik 
Professur:
Eisele, Ignaz 
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes