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Dokumenttyp:
Dissertation / Thesis
Titel:
New approaches to reliability qualification of semiconductor components under varying and progressive stresses
Betreuer:
Hansch, Walter, Univ.-Prof. Dr.-Ing.
Gutachter:
Hansch, Walter, Univ.-Prof. Dr.-Ing. ; Marquardt, Rainer, Univ.-Prof. Dr.-Ing.
Tag der Abgabe der Arbeit:
14.01.2021
Tag der mündlichen Prüfung:
28.06.2021
Verlagsort:
Göttingen
Verlag:
Cuvillier Verlag
Jahr:
2021
Seiten (Monografie):
vi, 152
Sprache:
Englisch
ISBN:
978-3-7369-7520-0 ; 978-3-7369-6520-1
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik
Professur:
Hansch, Walter
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
Sonstige Angaben:
Dissertation an der Universität der Bundeswehr München
BibTeX