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Autorinnen/Autoren:
Huppmann, Marc; Harrant, Manuel; Nirmaier, Thomas; Buzo, Andi; Maurer, Linus; Pelz, Georg
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Towards Complete State Machine Traversal via Pseudo Transitions in Automated Lab Verification
Titel Konferenzpublikation:
2022 IEEE International Test Conference India (ITC India)
Untertitel Konferenzpublikation:
Bangalore, India, 2022
Konferenztitel:
IEEE International Test Conference India (2022, Bangalore)
Tagungsort:
Bangalore, India
Jahr der Konferenz:
2022
Datum Beginn der Konferenz:
24.07.2022
Datum Ende der Konferenz:
26.07.2022
Verlagsort:
Piscataway, NJ
Verlag:
IEEE
Jahr:
2022
Seitenbereich:
1-7
Sprache:
Englisch
Abstract:
The complexity of modern automotive smart power devices increases due to their growing amount of functionality. The resulting extensive internal state machine requires more verification time especially in the mixed-signal post-silicon domain, which still relies on manually intensive directed testing. A state transition based methodology is proposed, that automatically finds a verification path through the complete state machine and ensures that each transition, and hence each state, is traversed...     »
DOI:
10.1109/ITCIndia202255192.2022.9854542
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Professorin/Professor:
Maurer, Linus
Open Access:
Nein / No
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