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- Autorinnen/Autoren:
- Castellazzi, Alberto; Fayyaz, Asad; Kraus, Rainer
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- SiC MOSFET Device Parameter Spread and Ruggedness of Parallel Multichip Structures
- Zeitschrift:
- Materials Science Forum
- Jahrgang:
- 924
- Jahr:
- 2018
- Seitenbereich:
- 811-817
- Sprache:
- Englisch
- ISSN:
- 0255-5476
- DOI:
- 10.4028/www.scientific.net/MSF.924.811
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
- Institut:
- EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
- Professorin/Professor:
- Maurer, Linus
- Open Access:
- Nein / No
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