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Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Stress Current Slew Rate Sensitivity of an Ultra-High-Speed Interface IC
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Jahrgang:
19
Heftnummer:
4
Jahr:
2019
Seiten von - bis:
591-601
Sprache:
Englisch
ISSN:
1530-4388 ; 1558-2574
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Institut:
EIT 4 - Institut für Mikroelektronik und Schaltungstechnik
Professur:
Maurer, Linus
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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