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Autoren:
Dollinger, Günther; Bergmaier, Andreas; Görgens, Lutz; Neumaier, Peter; Vandervorst, Wilfried; Jakschik, Stefan 
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article 
Titel:
High resolution elastic recoil detection 
Herausgeber Sammlung:
Vizkelethy, G.; McDaniel, F. D.; Thevuthasan, S.; Tesmer, J. R. 
Zeitschrift:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B 
Heftnummer:
219-220 (1-4) 
Jahr:
2004 
Seiten von - bis:
333-343 
Sprache:
Englisch 
Stichwörter:
Chemical analysis ; Elasticity ; Electron microscopy ; Hydrogen ; Impurities ; Monolayers ; Sensitivity analysis ; Surface treatment ; Crystalline ultra thin layers ; Elastic recoil detection (ERD) ; Light elements, Ultrathin films 
Abstract:
The quantitative analysis of light elements in ultra thin films being thinner than 10 nm is still a nontrivial task. This paper will summarise the prospects of high resolution elastic recoil detection (ERD) using a Q3D magnetic spectrograph. It has been shown that subnanometer resolution can be achieved in ultra thin films and even monolayer resolution is possible close to the surface. ERD has best quantification possibilities compared to any other method. Sensitivity is sufficient to analyse ma...    »
 
ISSN:
0168-583X 
Fakultät:
Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik 
Institut:
LRT 2 - Institut für angewandte Physik und Messtechnik 
Professur:
Dollinger, Günther 
Open Access ja oder nein?:
Nein / No