Login
- Autorinnen/Autoren:
- Pogany, Dionýz; Bychikhin, Sergey; Fürböck, Christoph; Litzenberger, Martin; Gornik, Erich; Groos, Gerhard; Esmark, Kai; Stecher, Matthias
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- Quantitative internal thermal energy mapping of semiconductor devices under short current stress using backside laser interferometry
- Zeitschrift:
- IEEE Transactions on Electron Devices
- Jahrgang:
- 49
- Heftnummer:
- 11
- Jahr:
- 2002
- Seitenbereich:
- 2070-2079
- Sprache:
- Englisch
- ISSN:
- 0018-9383 ; 1557-9646
- DOI:
- 10.1109/TED.2002.804724
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.1109/TED.2002.804724
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
BibTeX