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- Authors:
- Dubec, Viktor; Bychikhin, Sergey; Blaho, Matej; Heer, Michael; Pogany, Dionýz; Denison, Marie; Jensen, Nils; Stecher, Matthias; Groos, Gerhard; Gornik, Erich
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- Multiple-time-instant 2D thermal mapping during a single ESD event
- Journal:
- Microelectronics Reliability
- Volume:
- 44
- Issue:
- 9
- Year:
- 2004
- Pages from - to:
- 1793-1798
- Language:
- Englisch
- DOI:
- 10.1016/j.microrel.2004.07.087
- URL:
- https://doi.org/10.1016/j.microrel.2004.07.087
- Department:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institute:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Chair:
- Groos, Gerhard
- Open Access yes or no?:
- Nein / No
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