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- Autorinnen/Autoren:
- Fürböck, Christoph; Esmark, Kai; Litzenberger, Martin; Pogany, Dionýz; Groos, Gerhard; Zelsacher, R.; Stecher, Matthias; Gornik, Erich
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Thermal and free carrier concentration mapping during ESD event in Smart Power ESD protection devices using a modified laser interferometry technique
- Titel Konferenzpublikation:
- European Symposium, on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF)
- Untertitel Konferenzpublikation:
- Dresden, Germany; 2.10.2000 – 6.10.2000
- Konferenztitel:
- European Symposium, on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (2000, Dresden)
- Tagungsort:
- Dresden
- Jahr der Konferenz:
- 2000
- Datum Beginn der Konferenz:
- 02.10.2000
- Datum Ende der Konferenz:
- 06.10.2000
- Jahr:
- 2000
- Sprache:
- Englisch
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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