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Autorinnen/Autoren:
Groos, Gerhard; Jensen, Nils; Denison, Marie; Stecher, Matthias
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Simulation of the Cross-Coupling among Snap Back Devices under Transient High Current Stress
Herausgebende Sammelband:
Wachutka, Gerhard; Schrag, Gabriele
Titel Konferenzpublikation:
Simulation of Semiconductor Processes and Devices 2004
Konferenztitel:
International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (2004, München)
Konferenztitel:
SISPAD 04
Tagungsort:
München
Jahr der Konferenz:
2004
Datum Beginn der Konferenz:
02.09.2004
Datum Ende der Konferenz:
04.09.2004
Verlagsort:
Wien
Verlag:
Springer
Jahr:
2004
Seitenbereich:
211-214
Sprache:
Englisch
ISBN:
978-3-7091-0624-2 ; 978-3-7091-7212-4
DOI:
10.1007/978-3-7091-0624-2_48
URL zum Inhalt:
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-0624-2_48
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professorin/Professor:
Groos, Gerhard
Open Access:
Nein / No
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