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- Autorinnen/Autoren:
- Groos, Gerhard
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag / Conference Paper
- Titel:
- Characterisation method for chip card ESD events causing terminal failures
- Titel Konferenzpublikation:
- 23rd European Symposium on Reliability of Electronic Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2012
- Untertitel Konferenzpublikation:
- 1-5 October 2012: Cagliari, Italy
- Konferenztitel:
- European Symposium on Reliability of Electronic Devices, Failure Physics and Analysis (23., 2012, Cagliari)
- Tagungsort:
- Cagliari, Italy
- Jahr der Konferenz:
- 2012
- Datum Beginn der Konferenz:
- 01.10.2012
- Datum Ende der Konferenz:
- 05.10.2012
- Jahr:
- 2012
- Sprache:
- Englisch
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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