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- Autorinnen/Autoren:
- Sauter, Martin; Simbürger, Werner; Johnsson, David; Stecher, Matthias
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- On-wafer measurement of the reverse-recovery time of integrated diodes by Transmission-Line-Pulsing (TLP)
- Zeitschrift:
- Microelectronics Reliability
- Jahrgang:
- 51
- Heftnummer:
- 8
- Jahr:
- 2011
- Seitenbereich:
- 1309-1314
- Sprache:
- Englisch
- DOI:
- 10.1016/j.microrel.2011.02.012
- URL zum Inhalt:
- https://doi.org/10.1016/j.microrel.2011.02.012
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Sauter, Martin
- Open Access:
- Nein / No
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