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Dokumenttyp:: Patent
Patentnummer:: DE000019835266A1
Erfinder:: Sauter, Martin
Patentanmelder:: Siemens AG, 80333 München, DE
Titel:: Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen
Paralleltitel:: Operating temperature determining method for semiconductor components e.g. DMOS transistors
Anmeldeland:: Deutschland
Anmeldenummer:: 19835266
Datum der Patentanmeldung:: 04.08.1998
Veröffentlichungsdatum:: 17.02.2000
Jahr:: 1998
Seiten:: 6
Sprache:: Deutsch; Englisch
IPC-Hauptklasse:: H01L 23/62
URL zum Volltext:: https://register.dpma.de/DPMAregister/pat/register?AKZ=198352662
Fakultät:: Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:: ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:: Sauter, Martin
Sonstige Angaben:: Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen und dessen Verwendung

Vorkommen: