Universität der Bundeswehr München: AtheneForschung
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Dokumenttyp:
Patent 
Patentnummer:
DE000019835266A1 
Erfinder:
Sauter, Martin 
Patentanmelder:
Siemens AG, 80333 München, DE 
Titel:
Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen 
Paralleltitel:
Operating temperature determining method for semiconductor components e.g. DMOS transistors 
Anmeldeland:
Deutschland 
Anmeldenummer:
19835266 
Datum der Patentanmeldung:
04.08.1998 
Veröffentlichungsdatum:
17.02.2000 
Jahr:
1998 
Seiten:
6 
Sprache:
Deutsch; Englisch 
IPC-Hauptklasse:
H01L 23/62 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik 
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik 
Professur:
Sauter, Martin 
Sonstige Angaben:
Verfahren zur Erfassung der Betriebstemperatur von Halbleiterbauelementen und dessen Verwendung