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Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
Thermal distribution during destructive pulses in ESD protection devices using a single-shot, two-dimensional interferometric method
Titel Konferenzpublikation:
Digest. International Electron Devices Meeting
Untertitel Konferenzpublikation:
8-11 Dec. 2002
Konferenztitel:
International Electron Devices Meeting (2002, San Francisco, CA)
Konferenztitel:
IEDM 2002
Tagungsort:
San Francisco, CA
Jahr der Konferenz:
2002
Datum Beginn der Konferenz:
08.12.2002
Datum Ende der Konferenz:
11.12.2002
Verlagsort:
Piscataway
Verlag:
IEEE
Jahr:
2002
Seiten von - bis:
345-348
Sprache:
Englisch
ISBN:
0-7803-7462-2
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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