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Autoren:
Sauter, Martin
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag / Conference Paper
Titel:
A new method for temperature determination of integrated DMOSFETs
Titel Konferenzpublikation:
29th European Solid-State Device Research Conference
Bandnummer Reihe:
1
Konferenztitel:
European Solid-State Device Research Conference (29., 1999, Leuven)
Tagungsort:
Leuven
Jahr der Konferenz:
1999
Datum Beginn der Konferenz:
13.09.1999
Datum Ende der Konferenz:
15.09.1999
Verlagsort:
Piscataway, NJ
Verlag:
IEEE
Jahr:
1999
Seiten von - bis:
40-543
Sprache:
Englisch
ISBN:
2-86332-245-1
URL zum Inhalt:
https://ieeexplore.ieee.org/document/1505559
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Sauter, Martin
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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Vorkommen:
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