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Autoren:
Alsioufy, Adnan; Hirler, Alexander; Lehndorff, Thomas; Sulima, Torsten; Lochner, Helmut; Simon, Stefan; Siddabathula, Mahesh; Wiatr, Maciej; Hansch, Walter 
Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article 
Titel:
Technology Black Box 
Untertitel:
A Pioneering Tool for Semiconductor Technology Development in the Automotive Industry 
Verlagsort:
Neubiberg 
Verlegende Institution:
Universität der Bundeswehr München 
Jahr:
2020 
Seiten (Monografie):
Sprache:
Englisch 
Schlagwörter:
Kraftfahrzeugindustrie ; Halbleitertechnologie ; Zuverlässigkeit ; Technikbewertung ; Softwarewerkzeug 
Abstract:
During last years the automotive industry is driving substantial changes in the semiconductor value chain, seeking for specialized products tightly bounded to their application space. Therefore even if the Automotive Electronics Council (AEC) states different "grades" for the compliance of microelectronics chips, under different uniform environmental temperature stress, still an agreement on actual Mission Profiles (MP) is missing. The MP remains nowadays customer specific, therefore the assessm...    »
 
DDC-Notation:
629.272 
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik 
Institut:
EIT 2 - Institut für Physik 
Professur:
Hansch, Walter 
Open Access ja oder nein?:
Ja / Yes