Logo
Benutzer: Gast  Login
Autor:
Sulima, Torsten
Originaltitel:
Modifikationen von Silizium-Grenzflächen für die MOS-Technologie
Übersetzter Titel:
Modifications of silicon interfaces for the MOS technology
Jahr:
2003
Typ:
Dissertation
Einrichtung:
Universität der Bundeswehr München, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Betreuer:
Eisele, Ignaz, Prof. Dr. rer. nat.
Gutachter:
Eisele, Ignaz, Prof. Dr. rer. nat.; Baumgärtner, Hermann, Prof. Dr.-Ing. habil.
Format:
PDF
URN:
urn:nbn:de:bvb:706-700
Sprache:
Deutsch
Fachgebiet:
Physik, Astronomie
Schlagworte:
Silicium ; Halbleitergrenzfläche ; Modifikation ; MOS
Stichworte:
Silizium, Grenzflächen, Oberflächen, MOS-Technologie, Reinigung, Passivierung
Übersetzte Stichworte:
silicon, interfaces, surfaces, MOS technology, cleaning, passivation
Kurzfassung:
Die Arbeit beschäftigt sich mit der Problematik des sogenannten "Interface Engineerings" von Silizium-Grenzflächen. Dabei geht es um die Präparation der Grenz- und Oberflächen für die Abscheidung von Silizium und alternativen Materialien auf der Silizium-Oberfläche. Die Arbeit gliedert sich in vier Bereiche: 1.) Ein Überblick über auftretende Silizium-Grenzflächen und die Möglichkeiten der Analyse der Verunreinigungen und der Topografie. 2.) Die Reinigung von Silizium-Oberflächen zur Vorbereitun...     »
Tag der Abgabe der Dissertation:
24.06.2003
Tag der mündlichen Prüfung:
18.12.2003
Eingestellt am:
04.02.2004
Ort:
Neubiberg
Stadt (Autor):
Neustadt am Rübenberge
Vorname (Autor):
Torsten
Nachname (Autor):
Sulima
 BibTeX
Versionen