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- Autorinnen/Autoren:
- Bychikhin, Sergey; Litzenberger, Martin; Pichler, R.; Pogany, Dionýz; Gornik, Erich; Groos, Gerhard; Stecher, Matthias
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Titel:
- Thermal and free carrier laser interferometric mapping and failure analysis an "anti"-serially connected npn transistor ESD protection structure
- Zeitschrift:
- Microelectronics and Reliability
- Jahrgang:
- 41
- Heftnummer:
- 9-10
- Jahr:
- 2001
- Seitenbereich:
- 1501-1506
- Sprache:
- Englisch
- DOI:
- 10.1016/S0026-2714(01)00152-4
- URL zum Inhalt:
- http://dx.doi.org/10.1016/S0026-2714(01)00152-4
- Fakultät:
- Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
- Institut:
- ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
- Professorin/Professor:
- Groos, Gerhard
- Open Access:
- Nein / No
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