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Dokumenttyp:
Zeitschriftenartikel / Journal Article
Titel:
Thermal and free carrier concentration mapping during ESD event in smart power ESD protection devices using a modified laser interferometry technique
Zeitschrift:
Microelectronics and Reliability
Jahrgang:
40
Heftnummer:
8-10
Jahr:
2000
Seiten von - bis:
1365-1370
Sprache:
Englisch
URL zum Inhalt:
Fakultät:
Fakultät für Elektrotechnik und Technische Informatik
Institut:
ETTI 1 - Institut für Physik, Elektrotechnik und Automatisierungstechnik
Professur:
Groos, Gerhard
Open Access ja oder nein?:
Nein / No
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