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- Authors:
- Helm, Ricardo; Egger, Werner; Corbel, Catherine; Sperr, Peter; Butterling, Maik; Wagner, Andreas; Liedke, Maciej Oskar; Hirschmann, Eric; Mitteneder, Johannes; Mayerhofer, Michael; Lee, Kangho; Duesberg, Georg S.; Dollinger, Günther; Dickmann, Marcel
- Document type:
- Zeitschriftenartikel / Journal Article
- Title:
- Defect Characterization of the SiO2/Si Interface Investigated by Drift-Assisted Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy
- Journal:
- Nanomaterials
- Volume:
- 16
- Year:
- 2026
- Pages (Book):
- 1-18
- Language:
- Englisch
- ISSN:
- 2079-4991
- Article ID:
- 156
- DOI:
- 10.3390/nano16030156
- URL:
- https://doi.org/10.3390/nano16030156
- Department:
- Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik
- Institute:
- LRT 2 - Institut für Angewandte Physik und Messtechnik
- Chair:
- Dollinger, Günther
- Open Access yes or no?:
- Ja / Yes
- Type of OA license:
- CC BY 4.0
- Miscellaneous:
- Die Veröffentlichung wurde finanziell unterstützt durch die Universität der Bundeswehr München und die DFG.
- Fulltext OA license:
- https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
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